E1抗干擾開發系統用來模擬所開發出來設備的干擾過程，干擾電流、電場和磁場直接注入到電子模塊，以不同的方式來確定電路板上的敏感結構，了解耦合機制，使設備達到最佳的抗干擾能力。其四大作用如下：
1.干擾電流路徑分析

在類似靜電等突發測試中，干擾電流流過被測設備的電子模塊。在接地系統和/或信號回路感應電壓間，相應的磁場產生電壓差。 當被測設備產生一個功能故障時，后續的故障定位第一步是檢測被測設備各個部分，例如：獨立模塊、單獨的電纜連接，一個大模塊的局部區域。
2.使用場源進行故障定位

功能故障往往由干擾電流的磁場或電場（耦合為場鎖定）導致。為了定點干擾的地方，這些場要在一個小空間產生的磁場或電場與場源進行耦合。 如果一個功能發生故障時，當線路傳導干擾電流流入和流出被測設備時，磁場源用于故障定位。電場源在以下情況下使用：場鎖定耦合期間發生故障。
3.監測被測設備邏輯信號

當干擾耦合時，進行信號監測，從而認清干擾邏輯信號和測試EMC措施的效果。如果干擾是不能直接識別或在外面根本沒有，這些測量顯示針對待測物的瞬時工作狀態。 S21傳感器安裝在被測設備里，用于信號監測。該傳感器傳遞信號，該信號測試被測設備功能時，以下很重要：通過光纖在被測設備到SGZ21間不能相互影響。
4.測量脈沖或突發磁場

E1套件測量突發磁場，在測試設備和被測設備間沒有任何相互影響，從而顯示突發電流的狀態。每個突發磁場的測量提供了兩個結果：磁場大小和磁場方向。磁場線方向 - 電流以90°流入 - 通過轉動探頭很容易檢測。這樣很精確獲得被測設備的磁場，并評估特別危險的結構。    

具體資料請下載：E1研發階段電磁敏感度測試套件

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