實(shí)驗(yàn)背景：

在電子設(shè)備的設(shè)計(jì)與制造流程中，電磁干擾（EMI）占據(jù)著舉足輕重的地位，是不可或缺的考量要素。鑒于某些設(shè)備在運(yùn)作時(shí)可能釋放出高強(qiáng)度的電磁輻射，進(jìn)而對周邊設(shè)備的穩(wěn)定運(yùn)行構(gòu)成潛在威脅。我們借助EMI掃描儀、近場探頭以及頻譜分析儀等尖端工具，來精準(zhǔn)地識別并鎖定這些干擾源頭。通過集成高效能的測試設(shè)備，實(shí)現(xiàn)對電子設(shè)備電磁輻射特性的全面剖析。

實(shí)驗(yàn)?zāi)康模?/strong>

1、識別設(shè)備或電路板上的電磁干擾源

2、測量干擾的頻率和強(qiáng)度

3、定位潛在的干擾區(qū)域并評估其對周邊設(shè)備的影響

實(shí)驗(yàn)設(shè)備：

OI-EASU432型EMI掃描儀和軟件：作為高精度的電磁輻射測量與分析工具，該掃描儀能夠精確操控探頭位置與掃描軌跡，確保對被測設(shè)備（DUT）的全面覆蓋。通過自動(dòng)化掃描與先進(jìn)的軟件控制，我們能夠顯著減少人工干預(yù)，提升測試效率與精度。

OI-ICSET40GHz無源近場探頭組：作為EMI表面掃描的核心組件，這些探頭能夠敏銳捕捉DUT表面的局部電磁場強(qiáng)度，無論是電場還是磁場，均能依據(jù)實(shí)際需求靈活選擇。它們將捕捉到的信號傳輸至頻譜分析儀進(jìn)行進(jìn)一步處理。

FSV3044頻譜分析儀：頻譜分析儀用于實(shí)時(shí)測量和分析近場探頭采集到的電磁信號的頻率和強(qiáng)度，為后續(xù)的數(shù)據(jù)處理和分析提供支持。

實(shí)驗(yàn)測試設(shè)備連接：

根據(jù)需要選擇電場探頭或磁場探頭，將近場探頭安裝在掃描儀的探頭支架上，確保其能準(zhǔn)確接觸或靠近DUT的表面。探頭的校準(zhǔn)和配置由測試軟件控制，確保整個(gè)掃描過程中的數(shù)據(jù)一致性。將探頭信號通過掃描儀或直接連接至頻譜分析儀，并通過軟件進(jìn)行設(shè)備配置（如頻率范圍、分辨率帶寬等）。將DUT放置在掃描儀的工作區(qū)域，確保其在正常工作狀態(tài)下接受掃描測試。

實(shí)驗(yàn)步驟：

1.設(shè)備安裝與校準(zhǔn)：安裝好近場探頭，并確保掃描儀與頻譜分析儀正常連接到測試軟件，被測裝置應(yīng)通電并進(jìn)行運(yùn)行檢查，以確保設(shè)備正常運(yùn)行。

2.掃描與頻譜分析：在測試軟件中設(shè)定掃描路徑、頻率范圍和數(shù)據(jù)采集參數(shù)，啟動(dòng)自動(dòng)掃描與頻譜分析。

3.數(shù)據(jù)采集與實(shí)時(shí)監(jiān)測：測試軟件實(shí)時(shí)采集和處理掃描與頻譜數(shù)據(jù)，并以圖形方式顯示在用戶界面上。

4.數(shù)據(jù)分析：軟件自動(dòng)分析采集的數(shù)據(jù)，識別并標(biāo)記異常干擾源。

5.報(bào)告生成與管理：測試軟件支持自動(dòng)生成格式化的測試報(bào)告，并提供強(qiáng)大的數(shù)據(jù)管理功能，支持不同測試項(xiàng)目的數(shù)據(jù)分類。

實(shí)驗(yàn)技術(shù)要點(diǎn)：

探頭的選擇與校準(zhǔn)：選擇合適類型的探頭（如電場探頭或磁場探頭），確保探頭頻率范圍覆蓋測試要求的頻段，且在掃描過程中確保探頭穩(wěn)定、正確地定位，避免探頭位置的偏移影響測量數(shù)據(jù)。此外，在不同的測試環(huán)境和條件下，應(yīng)定期校準(zhǔn)探頭，以確保測量精度和重復(fù)性。

掃描路徑與分辨率：精確設(shè)定掃描路徑和分辨率（步進(jìn)距離），以保證測試的全面性和數(shù)據(jù)的精細(xì)度。分辨率過高可能導(dǎo)致測試時(shí)間過長，而分辨率過低可能會漏掉重要的干擾源，需要在精度與效率之間找到平衡。掃描路徑應(yīng)覆蓋DUT的所有關(guān)鍵區(qū)域，特別是電源輸入、時(shí)鐘電路和射頻電路等敏感區(qū)域。

頻譜分析儀的設(shè)置：根據(jù)待測設(shè)備的工作頻率和可能的干擾頻率，合理設(shè)置頻譜分析儀的頻率范圍和分辨率帶寬（RBW）。確保頻譜分析儀的輸入信號不會過載，避免導(dǎo)致失真或虛假信號出現(xiàn)。在采集不同頻段信號時(shí)，頻率范圍的設(shè)定要合理，以確保捕捉到所有潛在的干擾信號。

測試環(huán)境與屏蔽：如有條件，應(yīng)在屏蔽室內(nèi)或其他低干擾環(huán)境中進(jìn)行測試，盡量減少外界電磁噪聲對測試結(jié)果的影響。定期檢查測試環(huán)境中的背景噪聲水平，確保其低于設(shè)備發(fā)出的干擾信號。

掃描結(jié)果的重復(fù)性和一致性：多次重復(fù)測試，可在不同時(shí)間段和環(huán)境條件下進(jìn)行，以驗(yàn)證結(jié)果的一致性。每次測試應(yīng)嚴(yán)格遵循相同的操作流程和設(shè)置，以減少人為因素對結(jié)果的影響，且在同一被測設(shè)備上進(jìn)行的多次測試結(jié)果應(yīng)具有高度一致性，差異過大的結(jié)果需重新檢查設(shè)備和環(huán)境的穩(wěn)定性。